JEOL : le nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810 est disponible

JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (président-directeur général : Izumi Oi) annonce la sortie du nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810 le 28 juillet 2024.

Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FESEM) sont couramment utilisés dans les domaines de la science et de la technologie, notamment dans les instituts de recherche, les universités et l’industrie. Il existe une demande croissante pour un instrument qui peut être utilisé facilement, avec précision, rapidement et efficacement, de l’observation à l’analyse.

Le JSM-IT810 ajoute la fonction d’observation et d’analyse automatique « Neo Action » et la fonction d’étalonnage automatique au JSM-IT800, qui est équipé du système de contrôle optique électronique de nouvelle génération « Neo Engine » et du « SEM Center » pour une grande opérabilité telle que l’intégration Zeromag et EDS, afin non seulement d’améliorer l’efficacité et la productivité, mais aussi de contribuer à résoudre les problèmes de pénurie de main-d’œuvre.

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Caractéristiques principales

1. Fonction d’observation et d’analyse automatique « Neo Action »

Il vous suffit de sélectionner les conditions d’acquisition de l’image SEM et le champ de vision, et la fonction effectue automatiquement l’observation SEM et l’analyse EDS (spectroscopie X à dispersion d’énergie).

Cette fonction contribue à améliorer l’efficacité du travail de routine, y compris le travail d’analyse.

2. Fonction d’étalonnage automatique « SEM Automatic Adjustment Package »

Cette fonction permet l’exécution automatique des éléments sélectionnés dans le réglage de l’alignement, le réglage du grossissement et l’étalonnage de l’énergie EDS.

3. « Live Function »

Cette fonction apporte les fonctionnalités Live 3D, Live Analysis et Live Map. Des images 3D peuvent être construites sur place pendant une observation SEM afin d’obtenir des informations sur les irrégularités et la profondeur. Elle permet en outre de toujours afficher le spectre caractéristique des rayons X et la cartographie élémentaire.

4. Intégration EDS

L’observation par SEM et l’analyse par EDS sont intégrées. L’analyse d’un point, d’une zone et d’une MAP peut être effectuée à partir de l’écran d’observation. L’incorporation de l’EDS-Gather-X sans fenêtre permet la détection Li et l’analyse avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées.

Objectifs annuels de vente d’unités

220 unités/an

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Informations sur le produit : microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810

https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon

Izumi Oi, président-directeur général

(Code boursier : 6951, marché principal de la bourse de Tokyo)

www.jeol.com

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